Перевод: с русского на английский

с английского на русский

микроскоп для работы

  • 1 микроскоп для работы в отражённом свете

    Универсальный русско-английский словарь > микроскоп для работы в отражённом свете

  • 2 микроскоп для работы в проходящем свете

    Универсальный русско-английский словарь > микроскоп для работы в проходящем свете

  • 3 ионный микроскоп

    1. ion microscope

     

    ионный микроскоп
    Микроскоп, в к-ром для получения изображений применяют пучок ионов, создаваемый термоионным или газоразрядным ионным источником. По принципу действия и. м. аналогичен эл-нному. Пройдя через объект, ионный пучок фокусируется системой электростатических или магнитных линз и дает на экране или фотослое увелич. изображение объекта. Создано пока лишь несколько опытных образцов и. м. Работы по его усовершенствованию продолжаются. И. м. должен обладать более высокой разреш. способностью по ср. с эл-нным. Однако и. м. пока не нашел практич. применения. Значительно более эффективным оказался и. м. без линз, т. наз. автоионный микроскоп, или ионный проектор.
    [ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]

    Тематики

    EN

    Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > ионный микроскоп

  • 4 сканирующий электронный микроскоп

     (SEM)
     Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)
      Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.
     
     Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > сканирующий электронный микроскоп

  • 5 сканирующий туннельный микроскоп

      STM
     (Scanning Tunneling Microscope)
     Сканирующий туннельный микроскоп
      Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.
     
     Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного тока

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > сканирующий туннельный микроскоп

  • 6 reflected-light microscope

    микроскоп для работы (наблюдения, исследования) в отражённом свете

    Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > reflected-light microscope

  • 7 transmitted-light microscope

    микроскоп для работы (наблюдения, исследования) в проходящем свете

    Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > transmitted-light microscope

  • 8 металловедение

    1. physical metallurgy

     

    металловедение
    Наука о строении и св-вах металлов и сплавов. Осн. задачи м.: создание сплавов с зад. комплексом св-в; установл. закономерностей формиров. структуры и св-в изделий при их отливке, обработке давлением, термообработке и др. способах обработки; установл. закономерностей изменений структуры и св-в металлич. материалов при эксплуатации изделий. Главное в м. — учение о связи практич. важных св-в металлич. материалов с их химич. составом и строением (структурой). Становление м. как науки произошло во 2-й половине XIX в. Начальник златоуст. оруж. з-дов П. П. Аносов, работая над раскрытием тайны булатных клинков, в 1831 г. впервые в истории металлургии применил микроскоп для изучения строения стали. Англ. петрограф Г. Сорби использовал в 1864 г. микроскоп для изуч. строения железных метеоритов. Эти работы положили начало микроструктур. анализу металлов. Великий рус. металлург Д. К. Чернов (1839—1921 гг.) открыл в 1868 г. критич. точки (темп-ры превр.) в стали и связал с ними выбор режима термообработки для получения необх. структуры и св-в. Это открытие оказало определяющее влияние на последующее становление и развитие науки о металлах. Франц. инженер Ф. Осмонд применил изобрет. Ле-Шателье Pt|Rh-Pt термопару для установления критич. точек Чернова в сталях методом термич. анализа (по появл. тепл. эффектов превр.) и использовал изобрет. Ле-Шателье специализир. метал. микроскоп для выявл. в отраж. свете структурных составляющих в сталях. К 90-м гг. XIX в. закончился подготовит. период в развитии металловедения. В 1892 г. Ф. Осмонд предложил называть новую науку, описывающую строение металлов и сплавов, металлографией. Последние годы XIX в. и первые два 10-летия XX в. явл. периодом классич. металлографии, гл. методами к-рой были микроструктурный и термич. анализы. С 1920-х гг., все шире использ. рентгеноструктурный анализ для изучения ат.-кристаллич. строения металлов и разнообр. фаз в металлич. сплавах, а тж. механизма структур. измен. в металлич. материалах при разного вида обработках. К началу 30-х г.г. содержание науки о металлах вышло за рамки классич. металлографии и получило распростр. более емкое ее название — металловедение. В послед, годы в м. все шире используются представления физики тв. тела и физич. методы исследования. С 1950-х гг. широко применяется эл-ная микроскопия, к-рая позволяет более глубоко изучить структуру металлич. материалов. Для соврем. м. хар-но шир. использ. учения о дефектах кристаллич. решетки. М-ду теоретич. м. и физикой металлов нет четкой границы. В теоретич. м. рассматр. диаграммы сост., структура фаз в металлич. сплавах (тв. р-рах, интерметаллидах и др.), механизм и кинетика кристаллизации расплава и фаз. превращ. в тв. состоянии, изменение структуры и св-в металлов при пластич. деформации, общие закономерности влияния химич. состава и структуры на механич. и др. св-ва.
    Приклад. (технич.) м. изуч. состав, структуры, процессы обработки и св-ва металлич. материалов конкретных классов (напр., Fe-С-сплавов, конструкц., нерж. сталей, жаропрочных, Аl-, Сu- сплавов, металлокерамики и др.). В связи с развитием новых областей техники возникли задачи изучения поведения металлов и сплавов при радиац. воздействиях, весьма низких темп-pax, высоких давлениях и т.д.
    [ http://metaltrade.ru/abc/a.htm]

    Тематики

    EN

    Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > металловедение

  • 9 scanning electron microscope

     (SEM)
     Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)
      Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.
     
     Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > scanning electron microscope

  • 10 АСМ

     (AFM)
     Атомно-силовой микроскоп (АСМ)
      Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.
     ♣ Принцип работы атомно-силового микроскопа

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > АСМ

  • 11 Atomic Force Microscope

     (AFM)
     Атомно-силовой микроскоп (АСМ)
      Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.
     ♣ Принцип работы атомно-силового микроскопа

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > Atomic Force Microscope

  • 12 scanning tunneling microscope

      STM
     (Scanning Tunneling Microscope)
     Сканирующий туннельный микроскоп
      Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.
     
     Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного тока

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > scanning tunneling microscope

  • 13 STM

      STM
     (Scanning Tunneling Microscope)
     Сканирующий туннельный микроскоп
      Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.
     
     Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного тока

    Russian-English dictionary of Nanotechnology > STM

См. также в других словарях:

  • Микроскоп (оптич. прибор) — Микроскоп (от микро... и греч. skopéo смотрю), оптический прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом. Человеческий глаз представляет собой естественную оптическую… …   Большая советская энциклопедия

  • Микроскоп — I Микроскоп (от Микро... и греч. skopéo смотрю)         оптический прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом. Человеческий глаз представляет собой естественную… …   Большая советская энциклопедия

  • Микроскоп — I Микроскоп прибор для получения увеличенного изображения объектов или деталей их структуры, не видимых невооруженным глазом. Глаз способен различать детали объекта, отстоящие друг от друга не менее чем на 0,08 мм; с помощью светового М. можно… …   Медицинская энциклопедия

  • МИКРОСКОП — оптический прибор с одной или несколькими линзами для получения увеличенных изображений объектов, не видимых невооруженным глазом. Микроскопы бывают простые и сложные. Простой микроскоп это одна система линз. Простым микроскопом можно считать… …   Энциклопедия Кольера

  • МИКРОСКОП — Рис. 1. Микроскоп биологический серии «Биолам». Рис. 1. Микроскоп биологический серии «Биолам»: 1 — основание; 2 — микрометрическая фокусировка; 3 — предметный столик; 4 — тубосодержатель; 5 — механизм грубой фокусировки; …   Ветеринарный энциклопедический словарь

  • МИКРОСКОП — (от греч. mikros малый и skopeo смотрю), оптический инструмент для изучения малых предметов, недоступных непосредственному рассмотрению невооруженным глазом. Различают простой М., или лупу, и сложный М., или микроскоп в собственном смысле. Лупа… …   Большая медицинская энциклопедия

  • Микроскоп — оптический прибор, основанный на преломлении (диоптрический М.) световых лучей и служащий для получения сильно увеличенных действительных или мнимых изображений небольших, не различаемых невооруженным глазом предметов; изображения эти, полученные …   Энциклопедический словарь Ф.А. Брокгауза и И.А. Ефрона

  • Микроскоп* — оптический прибор, основанный на преломлении (диоптрический М.) световых лучей и служащий для получения сильно увеличенных действительных или мнимых изображений небольших, не различаемых невооруженным глазом предметов; изображения эти, полученные …   Энциклопедический словарь Ф.А. Брокгауза и И.А. Ефрона

  • Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope)  класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом …   Википедия

  • Двухфотонный лазерный микроскоп — лазерный микроскоп, позволяющий наблюдать живые ткани на глубине более одного миллиметра, используя явление флуоресценции. Двухфотонный микроскоп является разновидностью мультифотонного флуоресцентного микроскопа. Его преимущества по сравнению с… …   Википедия

  • Дифференциалный интерференционно-контрастный микроскоп — Дифференциальная интерференционно контрастная микроскопий (Интерференционно контрастная микроскопия или микроскопия Номарского) световая оптическая микроскопия, используемая для создания контраста в неокрашенных прозрачных образцах. ДИК микроскоп …   Википедия

Поделиться ссылкой на выделенное

Прямая ссылка:
… Нажмите правой клавишей мыши и выберите «Копировать ссылку»